روش پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction method)
روش پراش اشعه ایکس، یکی از متداول ترین روش های غیر مخرب برای اندازه گیری تنش های پسماند ماکروسکوپی و میکروسکوپی در سطح قطعات است که به سه روش متداول پرتودهی تک زاویه ای، پرتودهی دو زاویه ای و پرتودهی چند زاویه ای انجام می گیرد. هنگامی که قطعه ای تحت تنش قرار گیرد، کرنش های الاستیک ایجاد شده، باعث تغییر در فواصل میان صفحات اتمی مواد کریستالی می گردند. در روش های مبنی بر پراش (مانند پراش اشعه ایکس)، کرنش ها و به دنبال آن تنش ها، با اندازه گیری مستقیم این فواصل و استفاده از قانون "براگ" محاسبه می گردند. بنابراین روش پراش اشعه ایکس، تنها برای اندازه گیری تنش ها در مواد کریستالی و ترجیحا ریز دانه، به کار برده می شود. از آن جایی که عمق نفوذ طول موج هایی از اشعه ایکس که برای اندازه گیری تنش در قطعات به کار می روند بسیار کم و تنها در حدود چند میکرون است، مؤلفه تنش عمود بر سطحی که در معرض تابش اشعه ایکس قرار می گیرد، برابر صفر در نظر گرفته می شود و بنابراین در ناحیه مورد بررسی، شرایط تنش صفحه ای حاکم است. همچنین، برای اندازه گیری تنش های پسماند موجود در عمق نمونه با استفاده از پراش اشعه ایکس، لازم است نمونه لایه برداری شود تا سطوح جدیدی در عمق مورد نظر ایجاد گردد. عملیات لایه برداری به صورتی انجام می شود که در نمونه تنش اضافی تولید نکند.